赫爾納供應瑞士LS Instruments光散射儀LS

赫爾納供應瑞士LS Instruments光散射儀LS

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公司簡介：

LS Instruments可用的光散射技術不允許對濃縮樣品進行研究。此外，存在測量，而科學家無法從結果中找出這一點。彼得和弗蘭克致力于解決這個問題。目標是擴展商用光散射技術，以實現對渾濁和高濃度樣品的表征。

LS Instruments光散射儀主要產品：

LS Instruments光散射儀

LS Instruments流變儀

LS Instruments光散射儀產品型號：

LS

V-MALS

LS Instruments光散射儀產品特點：

粒徑范圍（R h） 0.15 nm 至 5μm

回轉半徑 5納米至5微米

分子量 360 - 3˙600˙000 道爾頓

有效：10°至150°

角度分辨率 +/- 0.05°

激光 光纖耦合激光器 120 mW，638 nm

激光強度可調范圍為 0.01% 至 100%

溫度 達 90 °C

尺寸（長x寬x高） 156 x 84 x 31 厘米

LS Instruments光散射儀產品應用：

LS Instruments光散射儀LS 光譜儀可變多角度光散射儀 (V-MALS) 可實現的顆粒表征。LS Spectrometer TM是一款可變多角度光散射儀器 (V-MALS)。在 V-MALS 中，探測器安裝在可移動臂上。LS Instruments光散射儀這樣可以調整角度，從而提高測量靈敏度。LS Spectrometer TM結合獲得的調制 3D技術（免稀釋測量）和 CORENN（改進的聚集體檢測），可實現市場上的納米顆粒表征。可變多角度光散射 (V-MALS)與傳感器安裝在固定角度的 MALS 儀器相比，LS Spectrometer TM的探測器安裝在圍繞樣品的旋轉臂上，以便可以且可變地調整到 12° 至 150° 之間的選定散射角度。LS Instruments光散射儀這有助于顯著提高顆粒尺寸和聚集體檢測以及衣殼負載、顆粒形狀或分子量等參數測量的靈敏度使用多重散射濾光片進行免稀釋測量DLS 和 SLS 技術都基于僅檢測到單個散射光的假設。然而，隨著顆粒濃度的增加，多重散射增加并逐漸主信號。LS Instruments光散射儀這在 DLS 和 SLS 中引入了不可檢測的系統誤差。LS Instruments 開發(fā)了可選的調制 3D 單元，可有效抑制多重散射。調制 3D 互相關技術使用兩束激光同時執(zhí)行兩個散射實驗。LS Instruments光散射儀雖然源自單次散射的是相同的，但在兩個實驗中多重散射的是不同的。通過對信號進行互相關，多重散射因此被抑制。3D LS 光譜儀是為 DLS 和 SLS 提供此技術的儀器。CORENN 是一種用于從 DLS 測量中提取粒度分布 (PSD)。LS Instruments光散射儀顯示了 4 nm 和 45 nm 顆粒混合物的 DLS 測量。有 CORENN 能夠正確確定這兩個群體。這是表征各向異性粒子的技術，并且越來越受到科學家的關注：一組兩個偏振器允許您通過簡單的 DLS 測量來表征樣品的旋轉動力學和各向異性粒子的縱橫比。LS Instruments光散射儀我們大的溫度循環(huán)器使您能夠控制樣品中的溫度。與其他循環(huán)器相比，它顯著減少了加熱和冷卻時間。可以通過LSI的LSI軟件模塊進行預編程，以在不同溫度下進行系列測量。LS Instruments光散射儀許多適合光散射的凝膠狀樣品表現出非遍歷行為，從而導致測量誤差。LS Instruments 開發(fā)了一種測角儀，可以以適當的速度旋轉非遍歷樣品以獲得正確的結果。LS Instruments光散射儀此外，樣品測角儀還可用于使樣品偏離旋轉。這使得可以使用方形池，其中樣品中的散射光路徑可以減少到小于 200 微米，從而顯著減少多重散射。